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基于多层膜的X射线色散与成像探测技术
来源: 日期2019-11-05 18:26 点击:

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报告题目:基于多层膜的X射线色散与成像探测技术

报 告 人:王占山

报告时间:2019年11月8日(星期五)下午16:30-17:30

报告地点:仲英楼B241

报告摘要:

X射线多层膜的发展将正入射光学系统拓展到软X射线波段,提升了传统X射线反射元件的能谱选择性和掠入射角,是软X射线和X射线波段重要的光学元件,产生了一些新的能谱和成像探测方法。针对各种等离子体诊断的需求,我们综述了基于多层膜的X射线色散与成像方法,给出了各种方法的评述。在我们研制多层膜的基础上,发展了多种等离子体诊断用的多层膜色散和成像探测方法,给出了研制系统的性能,同时,提出了我国发展各类系统需要解决的核心问题。

报告人简介:

王占山,同济大学先进技术研究院院长,教育部先进微结构材料重点实验室主任,物理科学与工程学院教授,博士生导师。主要从事光学薄膜与精密成像系统研究。SPIE Fellow,国家自然基金委员信息学部咨询委委员,中国光学学会理事,2008年国家杰出青年基金获得者2010年教育部长江学者特聘教授,2011年获上海市技术发明奖二等奖(排名1),2015年获教育部技术发明奖一等奖(排名1),2016年国家技术发明奖二等奖(排名2)。

 
 
文章作者:
责任编辑:马瑞峰
 
 
 
 
 
 
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